摘要：瞬态热阻抗是表征IGBT模块热特性的重要参数，瞬态热阻抗的退化可以反映模块材料的退化，因此研究IGBT瞬态热阻抗的退化模型对IGBT状态评估、寿命预测等研究有重大意义。利用温度循环老化实验装置对IGBT进行温度循环冲击老化，再利用瞬态热阻抗测试平台测试老化进程中IGBT的瞬态热阻抗曲线，得到模块的退化情况。最后分析实验结果建立IGBT瞬态热阻抗退化数学模型，得到瞬态热阻抗的退化规律。

      关键词：退化模型；瞬态热阻抗；温度循环；绝缘栅双极型晶体管

      中图分类号：TN32   文献标识码：A