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氮化镓功率器件的稳态结-壳热阻测量

发布日期:2024-07-18  浏览次数:748  下载次数:488   DOI字段:10.19457/j.1001-2095.dqcd25187

      摘要:器件结-壳热阻一直是功率器件备受关注的热参数,同时也是衡量功率器件散热性能的标准。为防止器件过热损坏应考虑其散热性能,因此器件热阻的精确测量尤为重要。器件热阻测量的难点在于器件的结温测量,因为在不破坏器件封装的情况下很难直接测量结温。通过实验发现:小电流下的导通电压作温敏电参数时,导通电压与温度有良好的线性度,可用于结温测量。最后在结温已知的情况下,基于热阻公式即可完成热阻测量。


      关键词:GaN器件;导通电压;结温;热阻


      中图分类号:TM28     文献标识码:A 




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