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基于源极电感检测法的SiC MOSFET短路保护电路研究

发布日期:2021-08-05  浏览次数:1777  下载次数:837   DOI字段:10.19457/j.1001-2095.dqcd21403

      摘要:碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)凭借高工作温度、高开关频率和低导通损耗等优点,被广泛应用于高压、高温和高工作频率场合,但SiC MOSFET的短路耐受时间较小,仅为2~5 μs,这对SiC MOSFET的短路保护电路提出了更高的要求。首先总结分析SiC MOSFET短路故障特性,然后基于源极电感检测法设计一款SiC MOSFET 短路保护电路并简要分析其工作原理,最后搭建实验平台进行实验验证。实验结果表明,所设计的短路保护电路结构简单,当SiC MOSFET 发生硬开关短路故障或负载短路故障时,保护电路能够在故障发生的1 μs 内关断器件,保证器件的安全运行。


      关键词:碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管;短路特性;源极电感检测法;短路保护


      中图分类号:TM13     文献标识码:A 





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