摘要：三电平逆变器系统中绝缘栅双极晶体管（IGBT）的结温及其幅值变化直接影响器件热失效等可靠性问题。以T型三电平逆变器为对象，结合IGBT的开关损耗模型及结温热模型，推导出其开关损耗、结温与开关频率之间的定量关系。提出采用多重化结构对逆变系统中T型三电平逆变器拓扑进行重构，在不影响系统输出性能的前提下有效地降低了功率器件的开关损耗和结温，提高系统的可靠性。仿真和实验验证了所提控制策略的有效性。

        关键词：T型三电平；功率器件；开关频率；多重化结构；可靠性

        中图分类号：TM464     文献标识码：A