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IGBT模块结壳热阻快速计算法研究

发布日期:2017-06-20  浏览次数:3156  下载次数:1110   DOI字段:10.19457/j.1001-2095.20170614

摘要:热阻是评价IGBT可靠性的重要指标。寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义。根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法。建立了根据不同散热系数下模块结温变化曲线的分离点求解模块结壳热阻的计算模型,制定了试验求解具体步骤。对所提出的方法和所设计的计算模型进行仿真研究和试验研究,并在实验室条件下验证了其可行性。


关键词:IGBT模块;结壳热阻;快速计算;瞬态热阻抗;模型


中图分类号:TM56    文献标识码:A

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